測(cè)量顯微鏡/顯微鏡 型號(hào)：DP-15J型

測(cè)量顯微鏡用途

直角坐標(biāo)中測(cè)定長(zhǎng)度，例如測(cè)定孔距，基面距離，刻線寬度，鍵槽寬度，狹縫寬度，通孔外圓直徑等等，轉(zhuǎn)動(dòng)度盤測(cè)定角度，例如對(duì)刻度盤，樣板，量規(guī)，鉆孔模板及幾何形狀復(fù)雜的零件行角度測(cè)量，用作觀察顯微鏡，以法檢查作平面光潔度，鑒定冶金業(yè)的礦石標(biāo)本。鑒定印刷照相制版，檢驗(yàn)紡織纖維等等。

測(cè)量顯微鏡 術(shù) 標(biāo)

物鏡		目鏡		顯微鏡放大倍數(shù)	作距離（距離）	視場(chǎng)直徑（毫米）
放大倍數(shù)	焦距（距離）	放大倍數(shù)	焦距
2.5X/0.8	43.40	10X	25.00	25X	58.84	5.6
10X/0.25	17.13			100X	7.81	1.4

測(cè)量組臺(tái)讀數(shù)裝置主要規(guī)格
測(cè)量范圍	X-軸移動(dòng)測(cè)量范圍 50毫米	Y-周移動(dòng)測(cè)量范圍 13毫米
測(cè)微器分度值	0.01毫米
測(cè)量臺(tái)	轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：不限
	刻度盤分度范圍：0°C-360°C
	刻度盤之分度值：1°C
	刻度盤游標(biāo)讀數(shù)示值：6
測(cè)量度	儀器示值誤差 ±（15+L/15）微米
	儀器示值誤差包括測(cè)量誤差與儀器系統(tǒng)誤差
	注：測(cè)量地點(diǎn)溫度變化（20°±3°）C	L - 為被測(cè)物體長(zhǎng)度（毫米）
儀器尺寸	測(cè)量臺(tái)與物鏡之間zui大距離 80 毫米
	測(cè)量臺(tái)作直徑 120毫米
	儀器體積 325x長(zhǎng)262x寬220 毫米
	重量約10.6kg
	顯微鏡的目鏡管同棱鏡成為體繞垂軸旋轉(zhuǎn)，顯微鏡可由調(diào)焦手輪行上下調(diào)焦

High Temperature System 溫臺(tái)系統(tǒng) 簡(jiǎn)介：用于制陶、冶金、地質(zhì)、溫聚合物等樣品觀察和研究。參數(shù)：溫度范圍：室溫到1500℃ 溫度度和穩(wěn)定性：1℃ 光孔直徑：1.7mm 樣品室：φ7x3mm zui大加熱速率：130℃/min zui小物鏡/聚光鏡作距離：6.0/14.8mm 氣密樣品腔室,可充入保護(hù)性氣體立溫度控制（計(jì)算機(jī)控制可選）尺寸：104x95x29mm 包括:	1
DP-TS1500 -7/3 High Temperature stage 溫臺(tái)	1
TMS94/1500 Temperature Programmer including PSU 14021 溫度程序控制器	1
ECP Water Circulation Pump and Tubing 水循環(huán)泵和管路	1
clamping to fix stage to microscope 熱臺(tái)安裝支架	1
鑷子	1
圖象采集系統(tǒng)：Temperature Control and Digital Video Capture System （Camera NOT included）	1
圖象采集系統(tǒng)：Pixelink PL-A662 Camera includes 4-port firewire card and firewire cable	1
反射顯微鏡，奧林巴斯

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