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天平固體密度測試裝置 天平密度測試裝置
產品簡介
天平固體密度測試裝置 天平密度測試裝置 型號：DP-JD
產品特點：密度測量裝置與電子天平結合，測量度可達千分之。操作簡單，可實現固體密度的度測量。
2.
韋氏比重天平/比重天平/韋氏天平/電子天平 型號：DP-D-5
| 本天平適用于電子、橡膠、食品、紙、機械等到行業,對于樹脂、金屬、玻璃以及各種化學溶液等材料的測定. 參數
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