大米外觀檢測(cè)儀/稻米分析儀米質(zhì)判定儀 型號(hào):DP-SCE
1、用途：用于各種類大米（米、糙米、糯米等）各項(xiàng)外觀標(biāo)的自動(dòng)檢測(cè)，可行多參數(shù)、批量化的自動(dòng)分析。
2、系統(tǒng)組成：雙光源掃描成像儀及附件、分析軟件和電腦（電腦另配）。
3、主要性能標(biāo)：
★配光學(xué)分辨率4800×9600、A4加長(zhǎng)的雙光源彩色掃描儀來成像（中晶 ScanMaker i800 Plus）。透掃幅面30 cm×20 cm，zui小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。
★可自動(dòng)次性測(cè)量分析30g以上大米樣品的：堊白度/率、碎米率及小碎米率、整米數(shù)量、整米率、大米透明度、黃粒米、雜質(zhì)量、異品種粒、不善粒（未成熟粒），及糯米的陰米率、病斑或黃變率。還可自動(dòng)分析大米的碾米度、裂紋率，以及糙米胚芽率。
自動(dòng)測(cè)量每粒的面積、長(zhǎng)徑、短徑、長(zhǎng)寬比、圓度、等效直徑（長(zhǎng)度測(cè)量誤差≤±0.05mm，長(zhǎng)寬比測(cè)量誤差≤±0.05，重現(xiàn)性誤差≤±0.02；整米率、碎米率標(biāo)測(cè)量誤差≤±1.0%、重現(xiàn)性誤差≤±0.25%）。可大批量自動(dòng)分析處理與輸出結(jié)果。與標(biāo)GB/T1350稻谷、GB/T17891稻谷或GB1354大米、農(nóng)業(yè)新標(biāo)準(zhǔn)【大米】NY/T2334-2013等標(biāo)準(zhǔn)相對(duì)應(yīng)，檢測(cè)各項(xiàng)標(biāo)的重量比和粒數(shù)比。各分析圖像、分布圖、結(jié)果數(shù)據(jù)可保存，分析結(jié)果輸出至Excel表，可輸出分析標(biāo)記圖。
★具有自動(dòng)學(xué)習(xí)與識(shí)別特性，可自動(dòng)分割粘連的大米、種粒，可做自動(dòng)分類分析。
★具有樣本條碼、電子天平RS232數(shù)據(jù)軟件接口。可兼測(cè)的種粒直徑范圍0.3-20mm（zui厚15 mm），自動(dòng)測(cè)量度≥99%，交互修正后準(zhǔn)確率達(dá)。
注：本標(biāo)書中打★款項(xiàng)響應(yīng)，否則為重大偏離
選配電腦推薦：聯(lián)想體機(jī)（雙核CPU /2G內(nèi)存/512M立顯卡/500G硬盤/ 20”彩顯/DVD-RM /無線網(wǎng)卡）。